美國 Magphan SMR170核磁共振模體作用：

用于磁共振設備綜合(he)性能評估和日常質量檢(jian)查

美國 Magphan SMR170核磁共振模體原理：

通(tong)過(guo)高(gao)分子材料樹脂、特(te)氟(fu)龍、丙烯、聚乙烯及空氣的嚴密排列組合，使它(ta)通(tong)過(guo)磁(ci)共(gong)振設(she)備時，產生的共(gong)振強度、偏差、衰減(jian)、及噪聲變化,在軸(zhou)向(xiang)，冠(guan)狀(zhuang)面，矢(shi)狀(zhuang)面生成圖片(pian),用于校驗檢測磁(ci)共(gong)振設(she)備。

美國 Magphan SMR170 核磁共振模體詳細說明：

SMR170結合了球形(xing)或和圓柱幾(ji)(ji)何學(xue)和方(fang)幾(ji)(ji)何學(xue), 采用了斜面(mian)專有設(she)計,磁共振設(she)備能夠從掃(sao)描圖像(xiang)上迅(xun)速識別(bie)模體定(ding)位。 模體由大(da)量(liang)特定(ding)的切(qie)片構成(cheng)，切(qie)片定(ding)位結束(shu)后，使用者可以對(dui)(dui)(dui)多切(qie)片系統(tong)順(shun)序進行圖像(xiang)評估 可測(ce)(ce)參數：空間均勻(yun)性(xing)、掃(sao)描層厚及切(qie)片;定(ding)位系統(tong)驗(yan)證;空間分(fen)辨率(lv)達(da)11對(dui)(dui)(dui)/cm;幾(ji)(ji)何線性(xing);信(xin)噪比(SNR);低對(dui)(dui)(dui)比度(du);T1和T2測(ce)(ce)量(liang);3D大(da)小評估;樣本測(ce)(ce)試 為日常QC或接(jie)受測(ce)(ce)試時(shi)，快速對(dui)(dui)(dui)設(she)備進行自動分(fen)析(xi),打印出易讀測(ce)(ce)試結果， 進行全面(mian)分(fen)析(xi)

SMR170體(ti)模所(suo)(suo)采用(yong)的(de)(de)(de)是較(jiao)常見的(de)(de)(de)斜(xie)面(mian)模塊(kuai)。斜(xie)面(mian)模塊(kuai)所(suo)(suo)用(yong)原(yuan)理簡單(dan)，方(fang)法(fa)快(kuai)捷，結(jie)果(guo)穩(wen)定，測(ce)量精度(du)較(jiao)高。其中，使用(yong)軟(ruan)件(jian)輔助(zhu)計(ji)算的(de)(de)(de)剖(pou)(pou)(pou)面(mian)線(xian)(xian)(xian)法(fa)效果(guo)很(hen)(hen)好，臨界值(zhi)法(fa)的(de)(de)(de)測(ce)量結(jie)果(guo)比(bi)目視估測(ce)的(de)(de)(de)剖(pou)(pou)(pou)面(mian)線(xian)(xian)(xian)法(fa)稍好。目前，國內外的(de)(de)(de)磁共振廠家(jia)的(de)(de)(de)系統自(zi)帶軟(ruan)件(jian)普遍支持測(ce)量斜(xie)面(mian)投(tou)影(ying)長(chang)度(du)和靈敏度(du)剖(pou)(pou)(pou)面(mian)線(xian)(xian)(xian)，斜(xie)面(mian)成(cheng)像剛(gang)好消失(shi)的(de)(de)(de)臨界值(zhi)相對(dui)比(bi)較(jiao)容易獲得(de)，誤差基本(ben)來自(zi)對(dui)投(tou)影(ying)長(chang)度(du)的(de)(de)(de)測(ce)量，若能保證測(ce)量的(de)(de)(de)起終點(dian)對(dui)齊且標(biao)尺與投(tou)影(ying)平行(xing)，人為因(yin)素的(de)(de)(de)影(ying)響相對(dui)較(jiao)小。剖(pou)(pou)(pou)面(mian)線(xian)(xian)(xian)是MRI對(dui)垂直(zhi)穿透成(cheng)像層的(de)(de)(de)直(zhi)線(xian)(xian)(xian)上(shang)的(de)(de)(de)點(dian)源的(de)(de)(de)響應(ying)。獲得(de)剖(pou)(pou)(pou)面(mian)線(xian)(xian)(xian)后，一(yi)般機器自(zi)帶系統沒有進一(yi)步處(chu)理的(de)(de)(de)功能，剖(pou)(pou)(pou)面(mian)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)很(hen)(hen)值(zhi)、二分之一(yi)很(hen)(hen)值(zhi)所(suo)(suo)在的(de)(de)(de)橫坐標(biao)數據等(deng)參數都需要估測(ce)，人為因(yin)素導致的(de)(de)(de)誤差相當大。若使用(yong)輔助(zhu)軟(ruan)件(jian)處(chu)理DICOM圖像數據，將數據導入數學軟(ruan)件(jian)重構(gou)剖(pou)(pou)(pou)面(mian)線(xian)(xian)(xian)曲線(xian)(xian)(xian)，則(ze)能精計(ji)算出剖(pou)(pou)(pou)面(mian)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)FWHM。

空間分辨力(li)及成(cheng)像(xiang)線性度測試(shi)(shi)：包括11組高(gao)分辨率測試(shi)(shi)卡(ka)，測試(shi)(shi)卡(ka)分別是1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11 lp/cm。測試(shi)(shi)卡(ka)上(shang)含有標(biao)稱距離為2cm、4cm、8cm的測試(shi)(shi)標(biao)尺。

低對比度(du)靈敏(min)度(du)測試：

含有低對比度(du)靈敏(min)度(du)測試塊，包括(kuo)有4組(zu)不同深度(du)的同一種(zhong)圓柱形(xing)測試物質，其深度(du)分別是0.5mm、0.75mm、1mm、2mm;每(mei)組(zu)物質中有三種(zhong)不同的直徑(jing)，分別是4mm、6mm、10mm。