日本Konica Minolta LS-150/LS-160亮度計產品簡介：

LS-150和LS-160亮度(du)計機身輕巧、外形緊湊，采用(yong)電(dian)池供電(dian)，用(yong)于測量各種亮度(du)條件。

新一代的(de)這兩款新儀器是LS-100和(he)LS-110的(de)杰出(chu)繼任者(zhe)，其功能和(he)使用(yong)性能均已改進。

這兩(liang)款儀器的測(ce)量范圍更廣，V(λ)相關(guan)性也已改進(CIE相關(guan)視覺亮度曲線(xian))。

若要實現更精que的亮(liang)度(du)測(ce)量，測(ce)量儀器的相對光譜敏感度(du)應匹配人眼的明視(shi)覺敏感度(du)，以CIE光譜發光效率V(λ)為代表(biao)。

除了使用(yong)性能改(gai)進(jin)(jin)外，LS-150 / 160與V(λ)的相(xiang)關性也已改(gai)進(jin)(jin)，且測量范圍大幅增至999,900 cd/m2 (LS-150)和9,999,000 cd/m2 (LS-160)。

日本Konica Minolta LS-150/LS-160亮度計產品特點：

1、機身(shen)輕巧、攜帶(dai)方(fang)便

LS-150/160機身輕巧、外形緊湊(cou)，采用電(dian)(dian)池(chi)供電(dian)(dian)，重量(liang)僅(jin)有(you)850g(不(bu)含電(dian)(dian)池(chi))。這兩款人體工程(cheng)學(xue)便攜式儀器均配(pei)有(you)一個(ge)手提箱(標配(pei))，便于長(chang)時間(jian)運輸和操作。

2、SLR(單鏡頭反射(she))光學系統

LS-150/160單鏡(jing)頭反射設計確保(bao)(bao)取景器中指示的區域(yu)與實際測量區域(yu)之(zhi)間沒有差異。簡單易用的SLR光學系統設計幾(ji)乎無雜光，消除了測量區域(yu)外照明的影響，從而保(bao)(bao)證測量精que性。

3、小(xiao)目標區域(yu)的單點測量

LS-150的(de)1°測(ce)量角可測(ce)量直徑小至14.4 mm的(de)區域(距(ju)離為1,014 mm時(shi));使用選配的(de)近攝鏡頭時(shi)，可測(ce)量直徑小至1.3 mm的(de)區域(距(ju)離為205 mm時(shi))。

LS-160的(de)1/3°測(ce)量角可測(ce)量直徑小至0.4 mm的(de)區域(安裝近攝鏡頭(tou)110時)。

4、帶背光的外(wai)置(zhi)液晶顯示屏(ping)

取景器內(nei)和外置顯(xian)示屏(ping)上均顯(xian)示測(ce)量數據，支持不同(tong)模式的用戶操作。

5、數據內存(cun)可存(cun)儲1000組測(ce)量數據

6、USB 2.0通(tong)信

通(tong)過USB 2.0連接至(zhi)PC，可發送測(ce)量數(shu)據和(he)接收控制信號。此儀器也支持通(tong)過USB連接線供電(dian)，非常適合用于測(ce)量模具或與PC/平板電(dian)腦連接使用。數(shu)據管(guan)理軟(ruan)件(jian)CS-S20w作為標準配件(jian)隨(sui)附。

7、10個可用(yong)校正通道可校正至用(yong)戶參(can)考光源

可將(jiang)LS-150/160校正至(zhi)用(yong)戶(hu)參(can)考光源(yuan)，使(shi)用(yong)多個設備時，此操作(zuo)可進一步減(jian)少器間誤(wu)差(cha)。

8、亮(liang)度(du)、亮(liang)度(du)差(cha)、比(bi)率、峰值和谷值測(ce)量

基于特殊應用，可將測量(liang)值(zhi)設置為亮(liang)度、峰值(zhi)/谷(gu)值(zhi)亮(liang)度和亮(liang)度比率(lv)。

除(chu)了對值的(de)(de)測量(liang)外(wai)，此儀器(qi)還可(ke)顯示(shi)與定義(yi)標準(目標)相關的(de)(de)值。這樣，可(ke)快速確(que)定大表面或相似物體(ti)上的(de)(de)亮(liang)度差。

主(zhu)要應用

. CRT、LED和EL的亮度測量。

. 道(dao)路和(he)隧道(dao)亮度測量。

. 鐵路系統信號測(ce)量(liang)。

. 道路和(he)機(ji)場信號測量。

. 照明和戶外標志(zhi)測量。

. 照明(ming)設備和裝置測量。

. 研(yan)究和測(ce)量測(ce)試(shi)。

. 設備(bei)亮度測量。