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ZDS5054A電源分析型示波器

簡(jian)要描述:ZDS5054A電(dian)(dian)源(yuan)分析(xi)(xi)型示波器,針(zhen)對電(dian)(dian)源(yuan)白(bai)盒測試(shi)開發了電(dian)(dian)源(yuan)分析(xi)(xi)、環路分析(xi)(xi)、電(dian)(dian)源(yuan)通信協議等功能,幫助(zhu)工程(cheng)師快(kuai)速(su)設計效率、高可靠的電(dian)(dian)源(yuan)。

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品牌其他品牌產地類別國產
類型其他應用領域能源,電子

ZDS5054A電源分析型示波器產品性能:

1.電(dian)源(yuan)分析:助(zhu)力電(dian)源(yuan)信號完整性(xing)分析

ZDS5054A電源分析功能(neng)涵蓋了輸入輸出特性測試,MOSFET、磁性元(yuan)件(jian)、電容、電感等(deng)器件(jian)分析,調制(zhi)波形測試等(deng)功能(neng),全方面評測電源可靠性。

2.MOSFET開關(guan)損耗準量化

功率MOSFET開關(guan)損(sun)耗(hao)測試(shi)是PFC電(dian)源調(diao)(diao)試(shi)中的(de)難點,由于SPWM每個周(zhou)(zhou)期(qi)的(de)開關(guan)損(sun)耗(hao)都不(bu)相同,傳統通過(guo)手光(guang)標和數學運算手動測試(shi)的(de)方式已經(jing)不(bu)適用。ZDS5054A示波(bo)器標配(pei)250Mpts存儲(chu)深(shen)度,可捕獲(huo)多個完整調(diao)(diao)制(zhi)周(zhou)(zhou)期(qi)SPWM波(bo)形(xing),自動統計各開關(guan)周(zhou)(zhou)期(qi)的(de)開通/關(guan)斷/導通損(sun)耗(hao),計算大值(zhi)(zhi)、小(xiao)值(zhi)(zhi)、平(ping)均值(zhi)(zhi),準(zhun)確量化開關(guan)器件(jian)的(de)功率損(sun)耗(hao)。

3.SOA測試:有效保障MOSFET工作全

功(gong)率(lv)MOSFET瞬(shun)時電壓、電流、功(gong)率(lv)超出全工(gong)作區,會導致器(qi)件損壞、爆炸的(de)(de)風險陡增,常規調試手段難以對器(qi)件的(de)(de)各種工(gong)況進行全方面評(ping)估(gu)。SOA 全工(gong)作區分析功(gong)能,可(ke)統計MOSFET在所有工(gong)況下瞬(shun)時參(can)數超出全工(gong)作區的(de)(de)概率(lv),便于工(gong)程師更好(hao)的(de)(de)評(ping)估(gu)電源工(gong)作穩定性。

4.環(huan)路分析:快速(su)判(pan)斷電(dian)源環(huan)路穩定性

穩定(ding)的反饋環路對開關電源(yuan)來說是非常重要的,如果沒有足(zu)夠的相(xiang)位裕(yu)度和幅值裕(yu)度,電源(yuan)的動態(tai)性能(neng)就(jiu)會很差或者出(chu)現輸出(chu)振(zhen)蕩(dang)。伯(bo)德圖可以(yi)(yi)直觀呈現負反饋系統(tong)的增益(yi)、相(xiang)位的頻率(lv)響應曲線,通過分析(xi)系統(tong)的增益(yi)余量(liang)與相(xiang)位余量(liang),可以(yi)(yi)判斷控制系統(tong)是否穩定(ding)。

5.內置雙通(tong)道AFG信號(hao)發生器

內置函(han)數信號發生(sheng)器(qi),支持正(zheng)弦波(bo)、三角波(bo)、方波(bo)、鋸齒波(bo)等標準函(han)數信號輸出,頻(pin)率(lv)高達30MHz,可以自動(dong)掃描電源控制環路伯德圖,自動(dong)顯示(shi)相位裕(yu)度和增(zeng)益(yi)裕(yu)度等參數,幫(bang)助工程師快(kuai)速進(jin)行環路分(fen)析(xi),快(kuai)速調試效率(lv)。

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ZDS5054A電源分析型示波器產品參數:

    型號帶寬通道數*高采樣率*高波形刷新率*大存儲深度內置信號源
ZDS5054Pro 500MHz44GSa/s1Mwfms/s512Mpts2ch
ZDS5054D 500MHz44GSa/s600kwfms/s512Mpts2ch
ZDS5054A 500MHz44GSa/s330kwfms/s250Mpts2ch


 

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